日本回路设计(NF)_LCR测试仪_ZM2354

日本回路设计 NF    LCR测试仪  ZM2354 

特点：

1.不需要复杂的操作，只要连接被测的样品即可！

2.自动地设定LCR等的参数选择、等效电路选择、以及测试量程。
3.A显示器用于显示L、C、R、Z的测量值

4.B显示器用于显示Q、D、ESR、G、X、θ的测量值（也显示V·I状态监视、设定参数）

5.每按一次，就选择一次测量速度设定为SLOW（慢）时，可减少显示的离散程度

6.每按一次，就切换一次测量频率（若要设定任意频率，请使用0?9数字键/修正键）

7.精确度高   基本精确度为0.1%、分辨率为4-1/2位数

8.测量的基本精确度为0.1%，显示的分辨率为4-1/2位数字（19999），D、Q的最高分辨率为0.0001，θ的分辨率为0.01

9.测量频率范围宽阔   最高200kHz

10.在40Hz?200kHz的宽阔的频率范围内，可用2位数字或3位数字的分辨率来设定频率。因为可用实际电路上的频率来进行测量，所以提高了测量值的可信赖程度。

11.高速测量   最快25ms

12.测量信号电平范围宽广   最大5Vrms

13.在10mVrms?5Vrms的宽广范围内，可用1mV或10mV的分辨率来设定信号电平，所以非常便于14.测量对信号电平有依存性的元件（半导体）等。

15.内置用于直流（DC）偏置的电源 最大2.5V  内置0mV?2.5V的用于直流（DC）偏置的电源（外置电源可达0V?±35V）。可以测量诸如电解电容器之类的极性电子元件和半导体的PN结电容。